数字成像基础理论学习笔记3：三议采样
发布时间 2014-06-04 来源 -
对射线辐射图像的采样，还不能谈时域采样，只能谈“空域采样”或“空间釆样”。什么是“空间”？就是工件的x、y、z三个方向。什么是“采样”？就是利用探测器探测。在x或y方向上，相邻像素中心距似乎就是采样空间的波长，像素个数(或单位长度的像素个数)似乎就是空间频率。在z方向表示为对射线强度探测----采样，把模拟强度变为数字灰度，采样最小单元为灰度级(2的位数次方)分之一。我以为：抛开以上x、y、z三个方向，再谈空域釆样，就很难让人理解了。我们现在搞的数字成像，明明就是这样采样么！？不必把问题复杂化。
维纳频谱分析的核心观念似乎是：空间频率和空间分辨率相关，二者有函数关系；而射线照相颗粒度(的橫向尺寸)，似乎决定了空间分辨率，线对/毫米。这一观念可以很方便地用到数字成像上。只不过固有不清晰度(射线能量)的影响要打折扣或去除了。
如果认为空间的二维，即显示平面的空间频率和空间分辨率有关。那么，显示器的分辨率恰恰是用纵和橫像素个数的乘积表示的，我以为像素个数就是平面的釆样频率。
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